贴片电容为什么要进行老化处理?贴片电容器的容量随时间以对数规律降低(之称之为老化)。然而，如果贴片电容器发热温度高于其介质的居里点时，此时产生“去老化”现象，即通过老化发生的容量降低重新恢复，当电容器恢复冷却时，老化又随时间产生。

　　贴片电容器去老化条件：将贴片电容器放在上限类别温度或按详细规范中可能规定的更高温度(150℃)下经1h 后，接着在试验的标准大气条件下恢复24±1h。

　　根据各类材质随时间衰减系数见以下曲线图：

　　贴片电容测试条件：

项目 Item	技术规格 Technical Specification	测试方法 Test Method Remarks
容量 Capacitance	Ⅰ类 ClassⅠ (COG/NPO)	应符合指定的误差级别 Should be within the specified toleance	标称容量 Capacitance	测试频率 Measuring Frequency	测试电压 Measuring Voltage
			≤1000PF	1MHz±10%	1.0V±0.2V
			>1000PF	1KHz±10%	1.0V±0.2V
	Ⅱ类 Class Ⅱ	应符合指定的误差级别 Should be within the specified toleance	C≤10uF     测试频率：1KHz±10%      1.0V±0.2V Test Frequency: 1KHz±10% Test Voltage: 1.0V±0.2V C>10uF       X7R X5R Y5V 测试频率：120Hz±24Hz     0.5V±0.05V Test Frequency: 120Hz±24Hz Test Voltage: 0.5V±0.05V
测试温湿度：25±5℃ 50%-70%

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